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蔡司GeminiSEM可助您輕松實(shí)現(xiàn)亞納米級分辨率的成像。出色的成像和分析技術(shù)更使FE-SEM（場發(fā)射掃描電子顯微鏡）如虎添翼。我們采用創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和全新樣品倉設(shè)計(jì)，不僅操作更加簡便，用途更加靈活多樣，還可為您帶來更高的圖像質(zhì)量。無需水浸物鏡即可拍攝低于1 kV的亞納米級圖像。

蔡司Sigma系列產(chǎn)品集場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)于一體，可輕松實(shí)現(xiàn)成像和分析程序，提高工作效率。 您可以將其用于新材料和顆粒的質(zhì)量監(jiān)測，或用于生物和地質(zhì)樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓，在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)可執(zhí)行高級顯微分析，以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數(shù)據(jù)。

充分運(yùn)用多達(dá)91條并行電子束的采集速度，用納米分辨率對厘米級樣品進(jìn)行成像。這款掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)用于全天候連續(xù)、可靠的運(yùn)行。只需簡單設(shè)置高通量數(shù)據(jù)采集工作流，MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。

EVO系列結(jié)合高性能掃描電子顯微鏡，為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗(yàn)。憑借豐富的選件，無論是在生命科學(xué)、材料科學(xué)，或是在日常工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，EVO均可根據(jù)您的需求量身定制。